Zur Übersicht |
|
| | |||
| Internationale Preise |
| Helium-Ionen-Mikroskop von Carl Zeiss erhält zwei internationale Auszeichnungen | Downloads und Links | ||
| Fachmagazine “Semiconductor International” und “R&D” vergeben Preise für einzigartige Mikroskopietechnologie | RTF-Dokumente
deutsch (36 KB)Weitere Informationen 
English Version
| ||
| OBERKOCHEN, SAN FRANCISCO/CA/USA, 17.07.2008. Den „Editors’ Choice Best Product Award 2008” des Fachmagazins „Semiconductor International“ erhielt Carl Zeiss SMT gestern für die Entwicklung des ORION™ Helium-Ionen-Mikroskops. „Mit dieser hochentwickelten Mikroskopietechnologie greift Carl Zeiss SMT die zukünftigen Anforde- rungen der Halbleiterindustrie und Nanotechnolo- gie erfolgreich auf”, kommentierte Laura Peters, Chefredakteurin von Semiconductor International, die Preisverleihung. Der Preis wurde in San Francisco auf der Semicon West 2008, der welt- weit größten Fachmesse für die Halbleiter- industrie, verliehen. Mit dem R&D 100 Award erhielt das ORION™ Helium-Ionen-Mikroskop vor wenigen Tagen eine weitere renommierte Auszeichnung (R&D ist das englische Synonym für F&E also Forschung und Entwicklung). Die unabhängige Jury des R&D Magazins, einer der führenden US-Zeitschriften für Forschung und Entwicklung, nahm diese neue Mikroskoptechnologie in seine Liste der 100 wichtigsten technologischen Neuentwicklungen des vergangenen Jahres auf. Tim Studt, Redak- tionsleiter des Magazins „R&D“ sagte: „Carl Zeiss ist ein leistungsstarker Anbieter, der kontinuierlich fortschrittlichste Technologie für Forschung und Wissenschaft bereitstellt. Wir gratulieren zu einem weiteren Kapitel in dieser Erfolgsgeschichte.“ Offiziell wird der R&D 100 Award im Oktober in Chicago übergeben. „Beide Auszeichnungen sind eine große Ehre für Carl Zeiss“, erklärte Dr. Dirk Stenkamp, Vorstandsmitglied von Carl Zeiss SMT und ergänzt: „Sie signalisieren, dass wir bei den Technologie- und Produktinnovationen eine Strategie umsetzen, welche Industrie und Wissenschaft den entscheidenden Vorsprung ermöglichen“. Das ORION™ Helium-Ionen-Mikroskop wurde bereits zweifach ausgezeichnet:
 Laura Peters, Chefredakteurin von Semiconductor International (links) überreicht den "Editor´s Choice Best Product Award" an Frank Averdung, Geschäftsführer der Carl Zeiss SMT Inc. in Peabody (USA), wo das ORION Helium-Ionen-Mikroskop entwickelt wurde. Markus Wiederspahn Public Relations Carl Zeiss SMT AG Tel.: +49 7364 20-2194 Fax: +49 7364 20-9206 E-Mail: 
wiederspahn@smt.zeiss.comPI Nr.: 0133-2008-GER SE Wortzahl: 341 Zeichenzahl: 3045 |
|