Produktübersicht

EVO SEMs mit XVP und EP-Modus zur Abbildung nicht leitender und nasser Proben SUPRA Feldemissions-SEM für Kryo-Anwendungen und hervorragende Niederspannungsabbildung ULTRA Feldemissions-SEM mit dualem In-column Detektor für die Abbildung von Nanoteilchen LIBRA® EFTEM (energiefilternde TEM) für höchste Qualität in Abbildung und Analyse Neues Elektronenmikroskop Wegweisender Entwicklungs- auftrag für Biotechnologien Aktuelle Messen und Veranstaltungen (in Englisch) Technologie-Portfolio erweitert Carl Zeiss SMT übernimmt ALIS Corporation Innovator Carl Zeiss NTS gehört zu den Top 100 Innovatoren Deutschlands News from CrossBeam® First CrossBeam® EsB system with dual in-column detection capability Carl Zeiss NTS GmbH Systems provider in Nanotechnology

Die von Carl Zeiss SMT angebotenen Rasterelektonenmikroskope (SEM), Feldemissions-SEMs (FE-SEM) und energiefilternde Transmissionselektronenmikroskope (TEM) zeichnen sich durch einzigartige Fähigkeiten für Anwendungen in der Biologie, Pharmazie und Diagnostik aus. Mit SEMs, die hohen Druck in der Probenkammer ermöglichen, können empfindliche und/oder hydratisierte Proben ohne umfangreiche Präparation abgebildet werden.