Produktübersicht

EVO-Palette Mehrzweck-SEMs mit ausgezeichneten Möglichkeiten zur Röntgenstrahlanalyse SUPRA und ULTRA Feldemissions-Analyse-SEMs mit ultrahoher Auflösung CrossBeam® FIB Palette mit Abbildung in Echtzeit und präziser TEM-Präparation LIBRA® EFTEM-Palette mit der einzigartigen, integrierten Energiefiltertechnologie von NTS Aktuelle Messen und Veranstaltungen Technologie-Portfolio erweitert Carl Zeiss SMT übernimmt ALIS Corporation Innovator Carl Zeiss NTS gehört zu den Top 100 Innovatoren Deutschlands News from CrossBeam® First CrossBeam® EsB system with dual in-column detection capability Cross®Beam 1540 Excels Best Product Award presented to Carl Zeiss NTS Carl Zeiss NTS GmbH Systems provider in Nanotechnology

Für so verschiedenartige Anwendungen wie Materialentwicklung und -charakterisierung, Qualitätssicherung, Produktentwicklung und Fehleranalyse produziert der Geschäftsbereich Nanotechnologiesysteme von Carl Zeiss SMT ein umfangreiches Programm an Rasterelektronenmikroskopen (SEM), Feldemissions-Elektronenmikroskopen (FE-SEM), energiefilternden Transmissionselektronen-mikroskopen (EFTEM) und fokussierten Ionenstrahlsystemen (FIB), mit denen echte Lösungen möglich sind.