 | | Starlith® 1250
Das Starlith® 1250 wird in den Scannern TWINSCAN XT: 1250 B (für 200 mm Wafer) und TWINSCAN XT: 1250 D (für 300 mm Wafer) von ASML eingesetzt. Seine im Bereich 0,6 bis 0,85 einstellbare numerische Apertur ermöglicht eine Auflösung von 80 nm und besser bei einem Bildfeld von 26x33 mm. Das Beleuchtungssystem bietet verschiedene Betriebsarten, so dass für unterschiedlichen Strukturtypen jeweils die ideale Einstellung für Kontrast, Auflösungsvermögen und Tiefenschärfe verwendet werden kann.
Da die Wellenlänge 193 nm sehr nahe an der Absorptionskante von Quarzglas liegt, werden im Optiksystem Starlith® 1250 auch Einzellinsen aus synthetischem Kalziumfluorid eingesetzt. |